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产品名称: |
SZT-1型数字式四探针测试仪
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型号规格: |
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放大图片 |
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产品类别: |
常规产品 -- 仪器仪表
-- 材料测试仪 |
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参考价格: |
厂价直销 |
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产品品牌: |
国产 |
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产品产地: |
上海 |
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可供数量: |
批量 |
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供货周期: |
现货(或电询) |
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产品简介: |
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SZT-1型数字式四探针测试仪产品详细说明:
SZT-1型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理 的多用途综合测量装置。它可以测量片状、快状半导体材料径向和轴向电阻率,测量片状半导体材料的电阻率和扩散层的薄层电阻(方块电阻),换上特制的四探针测试夹,还可以对金属导体的低中值电阻进行测量。此外,探针经过特殊加工后,还可以测量薄膜材料电阻率。广泛适用于半导体材料、器件厂、高等院校化学物理系、科研单位,对半导体材料的电阻性能测试。
本仪器测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针,定位准确,游移率小,使用寿命长。
SZT-1型数字式四探针测试仪技术参数:
1. 测量范围:
电阻率:10的-4次方~10的3 次方Ω-cm
方块电阻:10的-3次方 ~10的4 次方Ω/□
电阻:10的-6次方 ~10的5 次方Ω
导电类型鉴别:电阻率范围 10的-4 次方~10 的3次方Ω—cm
2. 可测半导体材料尺寸
直径:φ15~100 mm
长度:≤400mm
3. 测量方法:
轴向、断面均可
4. 显示方式:31/2,数显,极性、过载自动显示,小数点、单位自动显示。
5. 恒流源:
(1) 电流输出:直流电流0~100 mA连续可调。
(2) 量程:10、100μA、1、10、100mA
(3) 误差:±0.5%读数±2个字
6.四探针测试探头
(1) 探针间距:1mm
(2) 材料:碳化钨.探针机械游移率:±1.0%
7.电源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:<35W
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